重庆理工大学学报（自然科学）

重庆理工大学学报（自然科学） ›› 2019, Vol. 33 ›› Issue (8): 132-137.doi: 10. 3969 /j. issn. 1674-8425(z). 2019. 08. 021

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考虑不完美排错和检测率下降变化的软件可靠性模型

徐 立   

  1. 1. 中国科学技术大学 苏州研究院, 江苏 苏州 215000; 2. 商丘职业技术学院 软件学院, 河南 商丘 476100
  • 收稿日期:2019-01-15 出版日期:2019-09-27 发布日期:2019-09-27
  • 作者简介:徐立,男,硕士,讲师,主要从事数据挖掘?自然语言处理方面研究,E-mail:xuli1999@ 163. com?
  • 基金资助:
    国家自然科学基金资助项目(61501042)

  • Received:2019-01-15 Online:2019-09-27 Published:2019-09-27

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摘要： 为评估软件的可靠性,提出一种软件可靠性模型(IDDD 模型)。模型考虑了 bug 检测率随测试时间呈下降变化及修复 bug 时会引入新的 bug 等实际情况,在拟合和预测性能方面有较好的表现。 在经典 bug 数据集上使用公认拟合和预测性能评价指(SSE、Rsquare 和 AIC)与 5 个性能优秀的可靠性模型(G - O 模型、P - Z 模型以及 3 考虑不完美排错的模型)进行对比,实验结果表明:所提出模型在拟合和预测性能上表现优于其他模型,能更有效地在实际软件测试中预测软件中剩余 bug 的数量。

关键词: 软件可靠性模型, 不完美排错, 非齐次泊松过程, 检测率下降

中图分类号: 

  • TP399